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          PTI弱吸收測量儀

          (圖1)

          PTI弱吸收測量儀,主要用于晶體材料內部雜質吸收和膜層缺陷弱吸收測試。

          測量材料:透射膜層、透明晶體、透明陶瓷、透明玻璃等

          波長范圍:@1064nm

          測量分辨率:優于1ppm


          測試費用:面議。



          所屬單位:中國電子科技集團公司第十一研究所
          聯系方式:010-84321451    張川

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