PTI弱吸收測量儀
PTI弱吸收測量儀,主要用于晶體材料內部雜質吸收和膜層缺陷弱吸收測試。
測量材料:透射膜層、透明晶體、透明陶瓷、透明玻璃等
波長范圍:@1064nm
測量分辨率:優于1ppm
測試費用:面議。
所屬單位:中國電子科技集團公司第十一研究所
聯系方式:010-84321451 張川
PTI弱吸收測量儀,主要用于晶體材料內部雜質吸收和膜層缺陷弱吸收測試。
測量材料:透射膜層、透明晶體、透明陶瓷、透明玻璃等
波長范圍:@1064nm
測量分辨率:優于1ppm
測試費用:面議。
所屬單位:中國電子科技集團公司第十一研究所
聯系方式:010-84321451 張川