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          原子力顯微鏡

          (圖1)

          原子力顯微鏡,用于超光滑光學表面加工粗糙度監控和膜層表面粗糙度監控。

          測量范圍:最大50μm×50μm

          測量精度:分辨度優于0.1nm

          測試費用:面議。



          所屬單位:中國電子科技集團公司第十一研究所
          聯系方式:010-84321451    張川

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